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Herzlich Willkommen!
Ein kritisch-konstruktiver Kommentar zu Herausforderungen wissenschaftlicher Praxis und ein Plädoyer für mehr Fairness in der Wissenschaft.
Autor: Frisch, Katrin Hagenström, Felix Reeg, Nele
ISBN: 9783837659665
Auflage: 1
Sprache: Deutsch
Seitenzahl: 286
Produktart: Kartoniert / Broschiert
Verlag: transcript
Veröffentlicht: 04.10.2022
Untertitel: Wissenschaft zwischen Integrität und Fehlverhalten
Schlagworte: Authorship Autorschaft Plagiarism Plagiat Research Data Scientific Misconduct Scientific Practice Wissenschaftliche Integrität Wissenschaftliche Praxis Wissenschaftliches Fehlverhalten