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Zu "Reliability for Nanotechnologies" wurden 2 Produkte gefunden
Suchergebnis | Haupt Buchhandlung
Erscheinungsdatum
Titel A-Z
Titel Z-A
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Preis absteigend
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Verlag
Springer Netherland (2)
Produktart
Gebunden (1)
Kartoniert / Broschiert (1)
Autor
Gössel, Michael Ocheretny, Vitaly Sogomonyan, Egor Marienfeld, Daniel (2)
Schlagworte
CMOS (2)
Computer (2)
computer science (2)
Concurrent Checking (2)
Reliability for Nanotechnologies (2)
Self-Checking Adders (2)
Self-Checking Circuits (2)
Soft Error Detection and Correction (2)
Veröffentlicht
2008 (1)
2010 (1)
Sprache
Englisch (2)
New Methods of Concurrent Checking
107,00 CHF*
In den Warenkorb
New Methods of Concurrent Checking
107,00 CHF*
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