| Autor: | Ehrenstein, Gottfried W. |
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| ISBN: | 9783446461307 |
| Sprache: | Deutsch |
| Produktart: | Gebunden |
| Verlag: | Hanser Fachbuch |
| Veröffentlicht: | 09.12.2019 |
| Untertitel: | Lichtmikroskopie, Polarisation, Rasterkraftmikroskopie, Fluoreszenzmikroskopie, Rasterelektronenmikroskopie |
| Schlagworte: | Anschliff Brechung Kontrast Kunststoffe Licht-Mikroskopie Materialprüfung Naturwissenschaften Polarisation Präparation Qualitätsprüfung Rasterelektronenmikroskopie Rasterkraftmikroskopie Schadensanalyse Vergrößerung Werkstoffprüfung und Analytik |