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Herzlich Willkommen!
Autor: Eid, Michael Steyer, Rolf
ISBN: 9783540679196
Auflage: 2
Sprache: Deutsch
Seitenzahl: 397
Produktart: Kartoniert / Broschiert
Verlag: Springer Berlin
Veröffentlicht: 18.12.2000
Untertitel: Mit Übungen und Lösungen
Schlagworte: Messen Rasch-Test Testen Testtheorie Zufallsvariable